☆ Сопровождение движения пластин (продукции линий 100/150мм) по маршруту производства в части анализа отклонений и принятие решений по продвижению пластин
☆ Анализ результатов финишного и промежуточного контроля параметров тестовых компонентов и микросхем.
☆ Подготовка и проведение разрушающего анализа полупроводниковых структур, технических заключений и отчетов о проделанной работе